Hangzhou-Silan-Microelectronics-SVF2N60RM

Part #Hangzhou-Silan-Microelectronics-SVF2N60RM
Download 
Hangzhou-Silan-Microelectronics-SVF2N60RM
士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
2A
、
600V N
沟道增强型场效应管  
描述  
2
SVF2N60RD/M/MJ N
沟道增强型高压功率
MOS
场效应晶体管采  
用士兰微电子的
F-Cell

TM

平面高压
VDMOS
工艺技术制造。先进的工  
艺及元胞结构使得该产品具有较低的导通电阻、优越的开关性能及很  
高的雪崩击穿耐量。  
1
1
3
3
TO-252-2L  
该产品可广泛应用于
AC-DC
开关电源,
DC-DC
电源转换器,高  
压
H
桥
PWM
马达驱动。  
1.
栅极
2.
漏极
3.
源极  
特点  
2A
,
600V
,
R

DS(on)(

典型值

=3.7
@V

GS

=10V  
)
1
1
2
3
低栅极电荷量  
低反向传输电容  
开关速度快  
2
3
TO-251D-3L  
TO-251J-3L  
提升了
dv/dt
能力  
命名规则  
X N X X R X  
S V F  
封装外形标识  
例如:
FJH:TO-220FJH;  
F:TO-220F  
士兰
F-Cell
工艺
VDMOS
产品  
标识  
版本  
额定电流标识
,
采用
1-2
位数字;  
例如
:4
代表
4A  
额定耐压值,采用
2
位数字  
例如:
60
表示
600V  
沟道极性标识,
N
代表
N
沟道  
产品规格分类  
产品名称  
SVF2N60RDTR  
SVF2N60RM  
封装形式  
TO-252-2L  
TO-251D-3L  
TO-251J-3L  
打印名称  
2N60RD  
2N60RM  
2N60RMJ  
环保等级  
无卤  
包装形式  
编带  
无卤  
料管  
无卤  
料管  
SVF2N60RMJ  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
1
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
极限参数
(
除非特殊说明,
T

C

=25
C)  
参数范围  
参 数 名 称  
符号  
单位  
SVF2N60RM/D/MJ  
漏源电压  
栅源电压  
V

DS  

V

GS  

600  
±30  
V
V
2.0  
T

C

=25
C  
T

C

=100
C  
漏极电流  
I

D  

A
1.3  
漏极脉冲电流  
I

DM  

P

D  

8.0  
A
W
34  
耗散功率
(T

C

=25
C)  
大于
25
C
每摄氏度减少  
单脉冲雪崩能量
(
注
1)  
体二极管(注
2
)  
0.27  
115  
W/
C  
mJ  
E

AS  

dv/dt  
dv/dt  
T

J  

4.5  
V/ns  
V/ns  
C  
MOS
管
dv/dt
耐用性(注
3
)  
工作结温范围  
50  
-55
~
+150  
-55
~
+150  
贮存温度范围  
T

stg  

C  
热阻特性  
参数范围  
参
数
名
称
符
号
单位  
SVF2N60RM/D/MJ  
芯片对管壳热阻  
R

θJC  

R

θJA  

3.7  
C/W  
C/W  
芯片对环境的热阻  
62.0  
电气参数
(
除非特殊说明,
T

C

=25
C)  
参
数
符 号  
BV

DSS  

I

DSS  

I

GSS  

V

GS(th)  

R

DS(on)  

R

g  

测试条件  
V

GS

=0V
,
I

D

=250µA  
V

DS

=600V
,
V

GS

=0V  
V

GS

=±30V
,
V

DS

=0V  
V

GS

= V

DS

,
I

D

=250µA  
V

GS

=10V
,
I

D

=1.0A  
f=1.0MHz  
最小值  
典型值  
最大值  
—  
单位  
V
漏源击穿电压  
漏源漏电流  
栅源漏电流  
栅极开启电压  
导通电阻  
600  
—  
—  
—  
1.0  
±100  
4.0  
4.2  
—  
µA  
nA  
V
—  
—  
2.0  
—  
—  
3.7  
3.1  
250  
30  
栅极电阻  
—  
输入电容  
C

iss  

—  
—  
输出电容  
V

DS

=25V
,
V

GS

=0V
,
f=1.0MHz  
C

oss  

C

rss  

t

d(on)  

t

r  

—  
—  
pF  
ns  
反向传输电容  
开启延迟时间  
开启上升时间  
关断延迟时间  
关断下降时间  
栅极电荷量  
栅极
–
源极电荷量  
栅极
–
漏极电荷量  
—  
2.7  
8.04  
22.7  
17.1  
23.6  
8.92  
2.48  
4.42  
—  
—  
—  
V

DD

=300V
,
I

D

=2.0A
,
R

G

=25
  
(
注
4
,
5)  
—  
—  
t

d(off)  

t

f  

—  
—  
—  
—  
Q

g  

—  
—  
V

DS

=480V
,
I

D

=2.0A
,
V

GS

=10V  
(
注
4
,
5)  
Q

gs  

—  
—  
nC  
Q

gd  

—  
—  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
2
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
源
–
漏二极管特性参数  
参
数
符号  
I

S  

测试条件  
MOS
管中源极、漏极构成的反偏  
P-N
结  
最小值  
典型值  
—  
最大值  
2.0  
8.0  
1.4  
—  
单位  
源极电流  
—  
—  
—  
—  
—  
A
源极脉冲电流  
源
–
漏二极管压降  
反向恢复时间  
反向恢复电荷  
I

SM  

V

SD  

T

rr  

—  
I

S

=2.0A
,
V

GS

=0V  
—  
V
I

S

=2.0A
,
V

GS

=0V
,  
330  
0.87  
ns  
µC  
dI

F

/dt=100A/µS  
(
注
4)  
Q

rr  

—  
注:  
1.  
2.  
3.  
4.  
5.  
L=30mH
,
I

AS

=6.6A
,
V

DD

=100V
,
R

G

=25
,开始温度
T

J

=25
C;  
V

DS

=0~400V
,
I

SD

<=12A
,
T

J

=25
C;  
V

DS

=0~480V;  
脉冲测试: 脉冲宽度
≤300μs
,占空比
≤2%
;  
基本上不受工作温度的影响。  
典型特性曲线  
图
1.
输出特性  
图
2.
传输特性  
10  
1
10  
1
V
GS
=4.5V  
-55°C  
25°C  
V
GS
=5V  
V
GS
=5.5V  
V
GS
=6V  
V
GS
=7V  
V
GS
=8V  
150°C  
V
GS
=10V  
V
GS
=15V  
0.1  
0.1  
0.01  
注:  
1.250µS
脉冲测试  
2.V

DS

=50V  
注:  
1.250µS
脉冲测试  
2.T
C
=25°C  
0.01  
0.1  
1
10  
100  
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9 10  
漏源电压 –
V

DS

(
V
)  
栅源电压 –
V

GS

(
V
)  
图
3.
导通电阻
vs.
漏极电流和栅极电压  
图
4.
体二极管正向压降
vs.
漏极电流、温度  
4.20  
4.00  
3.80  
3.60  
3.40  
3.20  
100  
10  
1
-55°C  
25°C  
V
GS
=10V  
V
GS
=20V  
150°C  
注:  
1.250µS
脉冲测试  
2.V
GS
=0V  
注:
T

J

=25°C  
0.1  
0
0.5  
1
1.5  
2
2.5  
0
0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4  
源漏电压 –
V

SD

(
V
)  
漏极电流 –
I

D

(
A
)  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
3
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
典型特性曲线(续)  
图
6.
电荷量特性  
图
5.
电容特性  
12  
450  
400  
350  
300  
250  
200  
150  
100  
50  
C
iss
=C
gs
+C
gd
(C
ds
=shorted)  
C
oss
=C
ds
+C
gd  
C
rss
=C
gd  
V

DS

=120V  
V

DS

=300V  
10  
V

DS

=480V  
8
C
iss  
C
oss  
C
rss  
6
4
注:  
1. V
GS
=0V  
2. f=1MHz  
2
注:
I

D

=2.0A  
0
0
0.1  
0
2
4
6
8
10  
1
10  
100  
漏源电压 –
V

DS

(
V
)  
总栅极电荷 –
Q
g
(nC)  
图
7.
击穿电压
vs.
温度特性  
图
8.
导通电阻
vs.
温度特性  
3.0  
2.5  
1.2  
1.1  
1.0  
2.0  
1.5  
1.0  
0.5  
0.0  
0.9  
0.8  
注:  
1. V

GS

=0V  
2. I

D

=250µA  
注:  
1. V

GS

=10V  
2. I

D

=1.0A  
-100  
-50  
0
50  
100  
150  
200  
-100  
-50  
0
50  
100  
150  
200  
结温 –
T

J

(°C)  
结温 –
T

J

(°C)  
图
9.
最大安全工作区域
(SVF2N60RD/M/MJ)  
图
10.
最大漏电流
vs.
壳温  
10

1  

2.0  
1.5  
100us  
10

0  

1ms  
10ms  
DC  
1.0  
0.5  
此区域工作受限于
R

DS(ON)  

10

-1  

注:  
1.
最大结温:
150°C  
2.
最大参考温度:
25°C  
10

-2  

0
10

0  

10

1  

10

2  

10

3  

25  
50  
75  
100  
125  
150  
漏源电压
– V

DS

(V)  
壳温–
T

C

(°C)  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
4
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
典型测试电路  
栅极电荷量测试电路及波形图  
与待测器件  
参数一致  
V
GS  
10V  
Qg  
50K
Ω
 
V
DS  
200nF  
12V  
300nF  
Qgs  
Qgd  
V
GS  
待测器件  
3mA  
电荷量  
开关时间测试电路及波形图  
R
L  
V
DS  
V
DS  
90%  
V
GS  
V
DD  
R
G  
待测器件  
10%  
V
GS  
10V  
td(on)  
tr  
td(off)  
t
f  
t
off  
t
on  
E
AS
测试电路及波形图  
BV
DSS  
1
2
2
E
AS
=  
LI

AS  

L
–
BV
DSS
V
DD  
V
DS  
BV
DSS  
I
AS  
I
D  
R
G  
待测器件  
I
D(t)  
V
DD  
10V  
V
DS(t)  
V
DD  
tp  
Time  
tp  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
5
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
封装外形图  
TO-251D-3L  
单位:毫米  
E
SYMBOL  
MIN  
2.20  
0.66  
NOM  
MAX  
2.40  
0.86  
A
b
2.30  
—  
0.90  
5.46  
b2  
b3  
0.72  
—  
5.10  
0.46  
6.00  
5.33  
c2  
D
0.60  
6.20  
—  
6.10  
6.50  
6.60  
6.70  
E
e
2.286  
2.386  
11.00  
2.186  
10.40  
H
10.70  
3.50 REF  
L1  
L2  
0.508 BSC  
TO-251J-3L  
单位:毫米  
SYMBOL  
MIN  
NOM  
2.30  
1.00  
MAX  
4
A
2.18  
0.89  
0.56  
4.95  
—  
2.39  
1.14  
0.89  
5.46  
1.05  
0.61  
A1  
b
—  
5.33  
—  
b4  
b5  
c
0.46  
—  
D
E
5.97  
6.35  
6.10  
6.60  
6.27  
6.73  
e
2.29 BCS  
9.30  
L
8.89  
0.95  
0.89  
9.65  
1.50  
1.27  
L1  
L2  
—  
—  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
6
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
封装外形图(续)  
TO-252-2L  
单位:毫米  
SYMBOL  
MIN  
2.10  
0
NOM  
2.30  
—  
MAX  
2.50  
0.127  
0.89  
5.46  
0.65  
0.65  
A
A1  
b
0.66  
5.10  
0.45  
0.45  
0.76  
5.33  
—  
b3  
c
c2  
—  
D
E
5.80  
6.30  
6.10  
6.60  
6.40  
6.90  
e
2.30TYP  
10.10  
1.50  
Eject pin
(
note1
)  
H
9.60  
1.40  
10.60  
1.70  
L
L1  
2.90REF  
0.80  
L4  
0.60  
1.00  
NOTE1
:  
There are two conditions for this position:has an eject pin or has no eject pin.  
声明:  
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知!客户在下单前应获取最新版本资料,并验证相关信息是否完整和最  
新。  
任何半导体产品特定条件下都有一定的失效或发生故障的可能
,
买
方有责任在使用
Silan
产品进行系统设计和整  
机制造时遵守安全标准并采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情况的发生!  
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
7
页  

士兰微电子  
SVF2N60RD/M/MJ
说明书  
产品名称:  
SVF2N60RD/M/MJ  
文档类型:
说明书  
版
权:  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版
本:  
1.2  
修改记录:  
1.
添加
dv/dt
,
Rg
参数  
2.
更新
SOA
曲线  
本:
1.1  
修改记录:  
1.
更正
TO-251D-3L
封装外形图  
本:
1.0  
修改记录:  
版
版
1.
正式版本发布  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
1.2  
共
8
页 第
 
8
页