Hangzhou-Silan-Microelectronics-SVF6N60DTR

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Hangzhou-Silan-Microelectronics-SVF6N60DTR
士兰微电子  
SVF6N60MJ/F/D
说明书  
6A
、
600V N
沟道增强型场效应管  
描述  
2
SVF6N60MJ/F/D N
 
沟道增强型高压功率
MOS
场效应晶体  
管采用士兰微电子的
F-Cell

TM

平面高压
VDMOS
工艺技术制造。  
先进的工艺及条状的原胞设计结构使得该产品具有较低的导通电  
阻、优越的开关性能及很高的雪崩击穿耐量。  
1
1
2
3
3
该产品可广泛应用于
AC-DC
开关电源,
DC-DC
电源转换  
器,高压
H
桥
PWM
马达驱动。  
TO-251J-3L  
1.
栅极
2.
漏极
3.
源极  
特点  
1
1
∗
∗
∗
∗
∗
6A
,
600V
,
R

DS(on)(

典型值

=1.35
Ω
@V

GS

=10V  
2
)
3
3
TO-220F-3L  
TO-252-2L  
低栅极电荷量  
低反向传输电容  
开关速度快  
提升了
dv/dt
能力  
命名规则  
X N E X X X  
S V F  
士兰
F-Cell
工艺  
VDMOS
产品标识  
封装外形标识
,
例如:
MJ:TO-251J;  
F:TO-220F; D:TO-252  
额定电流标识
,
采用
1-2
位数字;  
例如
:4
代表
4A,10
代表
10A,  
08
代表
0.8A  
额定耐压值,采用
2
位数字  
例如:
60
表示
600V,65
表示
650V  
特殊功能、规格标识,通常省略  
例如:
E
表示内置了
ESD
保护结构  
沟道极性标识,
N
代表
N
沟道  
产品规格分类  
产 品 名 称  
SVF6N60MJ  
SVF6N60F  
封装形式  
打印名称  
SVF6N60MJ  
SVF6N60F  
SVF6N60D  
SVF6N60D  
材料  
无卤  
无卤  
无卤  
无卤  
包装  
料管  
料管  
料管  
编带  
TO-251J-3L  
TO-220F-3L  
TO-252-2L  
TO-252-2L  
SVF6N60D  
SVF6N60DTR  
杭州士兰微电子股份有限公司  
版本号:
2.0  
2015.02.13  
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士兰微电子  
SVF6N60MJ/F/D
说明书  
极限参数
(
除非特殊说明,
T

C

=25
°
C)  
参数范围  
参 数 名 称  
符号  
单位  
SVF6N60F  
SVF6N60MJ/D  
漏源电压  
栅源电压  
V

DS  

V

GS  

600  
±30  
6
V
V
T

C

=25°C  
T

C

=100°C  
漏极电流  
I

D  

A
3.8  
24  
漏极冲击电流  
I

DM  

P

D  

A
W
耗散功率(
T

C

=25
°
C
)  
42  
125  
–
大于
25
°
C
每摄氏度减少  
单脉冲雪崩能量(注
1
)  
工作结温范围  
0.34  
1.00  
W/
°
C  
mJ  
°
C  
E

AS  

T

J  

343  
-55
~
+150  
-55
~
+150  
贮存温度范围  
T

stg  

°
C  
热阻特性  
参数范围  
SVF6N60D  
1.00  
参 数 名 称  
符号  
单位  
SVF6N60F  
SVF6N60MJ  
芯片对管壳热阻  
R

θJC  

R

θJA  

2.98  
62.5  
0.95  
62.0  
°
C/W  
°
C/W  
芯片对环境的热阻  
62.0  
电性参数
(
除非特殊说明,
T

C

=25
°
C)  
参 数 名 称  
漏源击穿电压  
符号  
B

VDSS  

I

DSS  

I

GSS  

V

GS(th)  

R

DS(on)  

C

iss  

测试条件  
最小值  
典型值  
—  
最大值  
单位  
V
V

GS

=0V
,
I

D

=250µA  
V

DS

=600V
,
V

GS

=0V  
V

GS

=±30V
,
V

DS

=0V  
V

GS

= V

DS

,
I

D

=250µA  
V

GS

=10V
,
I

D

=3A  
600  
—  
—  
1.0  
±100  
4.0  
1.5  
—  
漏源漏电流  
—  
µA  
nA  
V
栅源漏电流  
—  
—  
栅极开启电压  
导通电阻  
2.0  
—  
—  
1.35  
690.7  
83.6  
2.7  
Ω
输入电容  
—  
V

DS

=25V
,
V

GS

=0V
,  
输出电容  
C

oss  

C

rss  

t

d(on)  

t

r  

—  
—  
pF  
ns  
f=1.0MHZ  
反向传输电容  
开启延迟时间  
开启上升时间  
关断延迟时间  
关断下降时间  
栅极电荷量  
—  
—  
—  
18.53  
42.67  
33.20  
28.13  
13.32  
4.13  
4.19  
—  
V

DD

=300V
,
I

D

=6A
,
R

G

=25
Ω  
—  
—  
t

d(off)  

t

f  

—  
—  
(
注
2,3)  
—  
—  
Q

g  

V

DS

=480V
,
I

D

=6A
,
V

GS

=10V  
—  
—  
栅极
–
源极电荷量  
栅极
–
漏极电荷量  
Q

gs  

—  
—  
nC  
(
注
2,3)  
Q

gd  

—  
—  
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SVF6N60MJ/F/D
说明书  
源
–
漏二极管特性参数  
参 数 名 称  
源极电流  
符号  
I

S  

测试条件  
MOS
管中源极、漏极构成的  
反偏
P-N
结  
最小值  
典型值  
最大值  
单位  
—  
—  
—  
—  
—  
—  
—  
6
24  
1.4  
—  
A
源极脉冲电流  
源
–
漏二极管压降  
反向恢复时间  
反向恢复电荷  
注:  
I

SM  

V

SD  

T

rr  

I

S

=6A
,
V

GS

=0V  
—  
V
I

S

=6A
,
V

GS

=0V
,  
dI

F

/dt=100A/µs  
488  
3
ns  
µC  
Q

rr  

—  
1. L=30mH
,
I

AS

=4.40A
,
V

DD

=105V
,
R

G

=25
Ω
,开始温度
T

J

=25
°
C
;  
2.
脉冲测试: 脉冲宽度
≤300μs
,占空比
≤2%
;  
3.
基本不受工作温度的影响。  
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SVF6N60MJ/F/D
说明书  
典型特性曲线  
图
1.
输出特性  
图
2.
传输特性  
100  
100  
10  
变量  
-55°C  
25°C  
V
GS
=4.5V  

GS

=5V  
GS
=5.5V  
GS
=6V  
GS
=7V  
GS
=8V  
V
V
V
V
V
150°C  
10  
V
V
GS
=10V  
GS
=15V  
1
1
注:  
1.250µS
脉冲测试  
2.T

C

=25°C  
注:  
1.250µS
脉冲测试  
2.V

DS

=50V  
0.1  
0.1  
0.1  
1
10  
100  
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10  
漏源电压
–
V

DS

(V)  
栅源电压
–
V

GS

(V)  
图
3.
导通电阻
vs.
漏极电流  
图
4.
体二极管正向压降
vs.
源极电流、温度  
100  
2.0  
1.8  
1.6  
1.4  
1.2  
-55°C  
25°C  
V

GS

=10V  
V

GS

=20V  
150°C  
10  
1
注:  
1.250µS
脉冲测试  
2.V

GS

=0V  
注:
T

J

=25°C  
0.1  
1.0  
0
10  
0
0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4  
2
4
6
8
源漏电压
–
V

SD

(V)  
漏极电流
–
I

D

(A)  
图
5.
电容特性  
图
6.
电荷量特性  
1400  
1200  
1000  
12  
C
C
C
iss
=C
gs
+C
gd
(C
ds
=shorted)  
oss
=C
ds
+C
gd  
rss
=C
gd  
V

DS

=480V  
V

DS

=300V  
V

DS

=120V  
10  
8
800  
600  
6
4
C
iss  
C
oss  
注:  
1. V

GS

=0V  
2. f=1MHz  
400  
200  
0
C
rss  
2
0
注:
I

D

=6.0A  
4
8
10  
0.1  
1
10  
100  
0
2
6
12  
14  
漏源电压
–
V

DS

(V)  
总栅极电荷
–
Q
g
(nC)  
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SVF6N60MJ/F/D
说明书  
典型特性曲线(续)  
图
7.
击穿电压
vs.
温度特性  
图
8.
导通电阻
vs.
温度特性  
3.0  
1.2  
2.5  
2.0  
1.5  
1.0  
1.1  
1.0  
0.9  
0.8  
注:  
1. V

GS

=0V  
2. I

D

=250µA  
注:  
1. V

GS

=10V  
2. I

D

=3.0A  
0.5  
0.0  
-100 -50  
0
50  
100 150 200  
-100 -50  
0
50  
100 150 200  
结温
–
T

J

(°C)  
结温
–
T

J

(°C)  
图
9-1.
最大安全工作区域
(SVF6N60F)  
图
9-2.
最大安全工作区域
(SVF6N60MJ/D)  
10

2  

10

1  

10

0  

10

2  

10

1  

10

0  

此区域工作受限于
R

DS(ON)  

此区域工作受限于
R

DS(ON)  

100µs  
1ms  
100µs  
1ms  
10ms  
DC  
10ms  
DC  
10

-1  

10

-2  

注:  
10

-1  

10

-2  

注:  
1.T

C

=25°C  
2.T

j

=150°C  
3.
单个脉冲  
1.T

C

=25°C  
2.T

j

=150°C  
3.
单个脉冲  
10

0  

10

1  

10

2  

10

3  

10

0  

10

1  

10

2  

10

3  

漏源电压
– V

DS

(V)  
漏源电压
– V

DS

(V)  
图
10.
最大漏电流
vs.
壳温  
6
5
4
3
2
1
0
25  
50  
75  
100  
125  
150  
壳温
–
T

C

(°C)  
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说明书  
典型测试电路  
栅极电荷量测试电路及波形图  
与待测器件  
参数一致  
V
GS  
Qg  
10V  
50K
Ω
 
V
DS  
200nF  
12V  
300nF  
Qgs  
Qgd  
V
GS  
待测器件  
3mA  
电荷量  
开关时间测试电路及波形图  
R
L
V
DS  
V
DS  
90%  
V
GS  
V
DD  
R
G
待测器件  
10%  
GS  
V
10V  
td(on)  
tr  
td(off)  
t
f
t
on  
t
off  
E
AS
测试电路及波形图  
B
VDSS  
1
2
2
E
AS
=  
LI

AS  

L
–
V
DD  
B
VDSS  
V
DS  
B
VDSS  
I
D  
I
AS  
R
G
待测器件  
I
D(t)  
V
DD  
10V  
V
DS(t)  
V
DD  
tp  
Time  
tp  
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士兰微电子  
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说明书  
封装外形图  
单位
:
mm  
TO-251J-3L  
6.35
~
6.73  
4.95
~
5.46  
2.18
~
2.39  
0.46
~
0.89  
2.29TYP  
0.46
~
0.61  
0.89
~
1.14  
0.56
~
0.89  
单位:
mm  
TO-220F-3L  
4.72±0.30  
2.55±0.25  
10.03±0.30  
Φ
3.20±0.20  
2.80±0.30  
1.47MAX  
0.80±0.15  
2.54 TYPE  
0.50±0.15  
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说明书  
封装外形图(续)  
单位
: mm  
TO-252-2L  
6.60
±
0.3  
2.30
±
0.20  
0.45
~
0.65  
5.10
~
5.46  
Eject pin
(
note1
)  
0.0
~
0.127  
2.30 TYP  
0.45
~
0.65  
0.76
±
0.10  
该位置分有顶针孔和无顶针孔两种情况。  
注:  
声明:  
•
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知!客户在下单前应获取最新版本资料,并验证相关信息是否完  
整和最新。  
•
任何半导体产品特定条件下都有一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用
Silan
产品进行系统  
设计和整机制造时遵守安全标准并采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情  
况的发生!  
•
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!  
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说明书  
附:  
修改记录:  
日 期  
版本号  
描
述
页码  
原版  
2011.02.23  
1.0  
增加
TO-251D-3L
和
TO-251J-3L
封装  
更新
TO-220F-3L
和
TO-252-2L
尺寸图  
删除
TO-251-3L
和
TO-251D-3L
封装  
增加
SVF6N60F
的无卤信息  
修改“源
–
漏二极管特性参数
”  
修改“产品规格分类”  
2011.07.04  
1.1  
2011.09.09  
2012.04.11  
2012.05.14  
2013.03.13  
2013.07.31  
2013.12.11  
2014.04.23  
2014.05.19  
2015.02.13  
1.2  
1.3  
1.4  
1.5  
1.6  
1.7  
1.8  
1.9  
2.0  
对封装立体图管脚进行编号  
修改
MOS
管符号的示意图  
修改产品规格分类  
修改
TO-251J-3L
尺寸图  
修改热阻特性  
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